III - Principe général du masque flou en imagerie numérique
VII - Une méthode de traitement des détails
VIII - La réduction des artefacts
De multiples essais et raisonnements permettent de formuler les règles suivantes quant au paramétrage du masque flou :
LES REGLES D'ORDRE GENERAL
Illustration 1 : Paramétrage du masque flou : A gauche, une image brute prétraitée de Jupiter obtenue par l'équipe des astronomes du Télescope de 1 mètre de l'Observatoire du Pic du Midi (F.COLAS, P.LAQUES, J.LECACHEUX). Au fait, que ces trois astronomes soient remerciés pour leurs travaux et disponibilité ! De haut en bas, les trois bandes horizontales sont respectivement les masques flous de cette image, les masques des détails et les images finalement traitées par cette méthode. De gauche à droite, les masques sont obtenus grâce à des matrices et écarts types de 9 pixels et 5 sigma, 13 pixels et 6 sigma, 17 pixels et 9 sigma, 23 pixels et 13 sigma. On remarque nettement que les petites matrices renforcent le contraste des plus fins détails, tandis que les grandes renforcent le contraste des zones de plus grande échelle comme les bandes. Pour l'oeil, les images les plus satisfaisantes sont obtenues avec des matrices de 13 et 17 pixels. Remarquez aussi sur les masques de détails, l'artefact bien visible autour du disque de la planète. Images traitées par le logiciel TRIM de l'auteur.
SOMMAIRE
I - L'image en informatique
1 - Image BITMAP ou point par point
2 - Image vectorielle
1 - D'abord en astrophotographie argentique !
2 - Et maintenant en imagerie numérique
1 - La courbe gaussienne
2 - Le produit de convolution
1 - Action du traitement sur des détails de différents profils photométriques élémentaires
2 - Pourquoi y-a-t-il création d'artefacts ?
V - REGLES DU TRAITEMENT
VI - REGLAGE DU TRAITEMENT
Profils photométriques élémentaires | Quelle matrice utiliser ? |
Profils en impulsions, (étoiles, nuages très lumineux...) Soit ni la largeur en pixels à la base du profil en impulsion. | L'efficacité d'extraction du détail croit jusqu'à un maximum avec la dimension de la matrice convoluante. L'efficacité d'extraction est favorisée par l'emploi d'une grande matrice de convolution devant la largeur de l'impulsion ni. Pour une matrice de ni pixels : si sigma proche de ni/4 alors l'efficacité d'extraction est de 20%; si sigma supérieur à ni/2 alors l'efficacité d'extraction est de 30%. Pour une matrice de 1,5 ni pixels : si sigma proche de ni/4 alors l'efficacité d'extraction est de 22% (maximum possible); si sigma supérieur à ni/2 alors l'efficacité d'extraction est de 40 à 60%. Pour une matrice de 4 ni pixels : si sigma proche de ni/4 alors l'efficacité d'extraction est de 22% (maximum possible); si sigma proche de ni/2 alors l'efficacité d'extraction est de 50% (maximum possible); si sigma supérieur à ni alors l'efficacité d'extraction est d'environ 70 à 90%. |
Profils en creux, (Bandes ou nuages sombres sur une planète...) Soit nd la largeur en pixels de la dépression du profil en creux. | Idem que le profil en impulsion mais ni=nd. |
Profils lumineux cycliques (Granulation Solaire...) Soit nc la période en pixels. | L'efficacité d'extraction du détail croit jusqu'à un maximum avec la dimension de la matrice convoluante et l'écart type. On obtient le maximum d'efficacité avec une matrice dont la dimension est supérieure à environ 1,5 fois la période du détail cyclique. Pour une matrice de dimension très inférieure à nc : l'efficacité peut être presque nulle. Pour une matrice de dimension proche de nc : si sigma proche de 1/4 nc l'efficacité est d'environ 75%; si sigma est supérieur à 1/2 nc l'efficacité est d'environ 100%. Pour une matrice de dimension supérieure ou égale à 1,5 nc : l'efficacité est maximum (mais oscille autour du maximum, pour devenir constante par la suite). La valeur du maximum dépend de la valeur de sigma. Si sigma vaut le quart de nc alors l'efficacité est proche de 75%. Si sigma supérieur à la moitié de nc alors l'efficacité peut être supérieure à 100%. |
Profils photométriques élémentaires | Quel artefact est créé par la méthode ? Comment évolue t-il avec les paramètres ? (Les remarques sont d'autant plus vraies que le profil est isolé dans l'image) |
Profils lumineux cycliques(Granulation Solaire...) Soit nc la période en pixels. | L'artefact est ici bien visible à l'interface entre ce type de profil et un autre. Par exemple, il sera perceptible au niveau de la transition entre la granulation et une tache solaire. Le masque flou déforme le profil mais renforcera son contraste. |
Profils en impulsions, (étoiles, nuages très lumineux.. .) Soit ni la largeur en pixels à la base du profil en impulsion. F IGURE 2 | Pour un profil n'ayant pas un fort gradient de luminance, i
l s'agit de la baisse de la luminance par rapport au niveau moyen à sa base ainsi que sa déformation (il ne s'agit pas de la simple multiplication du profil par une constante !). Pour un profil à fort gradient (par exemple un signal carré de forte amplitude), il se rajoute un artefact au sommet de l'impulsion (voir les artefacts d'un front). Par exemple typiquement, on observe un anneau sombre autour d'une étoile sur un fond nébuleux... ou un anneau sombre autour d'un nuage lumineux sur Jupiter... L'amplitude de la luminance des artefacts croit avec la dimension de la matrice convoluante (et ) jusqu'à un maximum. Ce maximum est atteint lorsque la matrice est environ 1,5 fois plus grande que la dimension du profil. Par la suite, pour des matrices dont les dimensions sont supérieures à 1,5 fois celle du profil, l'évolution de l'amplitude de l'artefact dépend de la valeur de l'écart type et non plus de la dimension de la matrice en pixels. Si sigma est inférieur à environ la moitié de la dimension du profil, alors l'amplitude des artefacts reste constant quelque soit la dimension de la matrice. Si sigma est supérieur à la moitié de la dimension du profil, alors l'amplitude des artefacts diminue très rapidement en fonction de sigma. Donc de très grandes matrices avec de très grands écart-type devant la dimension du profil, ne provoque pas d'important artefacts; et même au contraire peuvent en éviter sur ce type de profil. La dimension d'un des deux artefacts en pixels est d'environ la moitié de la dimension de la matrice convoluante (si sigma reste supérieur à environ le sixième de la dimension de la matrice). La dimension de l'artefact en pixels croit avec la dimension de la matrice mais atteint un maximum pour n supérieur à 6 ou 7 sigma. |
Profils en creux, (Petites nébuleuses obscures, Bandes ou nuages sombres sur une planète...) Soit nd la largeur en pixels de la dépression du profil en creux. FIGURE 3 | Il s'agit de l'augmentation de la luminance par rapport au niveau moyen sur le bord du profil en creux. Par exemple typiquement, on observe un anneau lumineux autour de l'ombre d'un satellite sur le disque de Jupiter. Ou, on crée deux bandes équatoriales lumineuses sur les bords d'une large bande sombre de Jupiter. (Réaction des artefacts idem que le profil en impulsion avec ni=nd.) |
Profils en front montant ou descendant, bordures (Limbes planétaires, limites des continents et des calottes polaires Martiennes...) Soit nf la largeur en pixels du front. FIGURE 4 | Il s'agit de l'augmentation et de la baisse de la luminance respectivement au sommet et à la base du profil en front. Par exemple typiquement, on observe des bandes lumineuses et sombres respectivement sur la périphérie des continents et mers Martiennes. De même les calottes polaires Martiennes sont souvent bordées d'une bande sombre. Citons aussi l'invention de bandes lumineuses et sombres sur le périmètre d'un disque planétaire. Les bords des anneaux de Saturne qui sont rendus plus lumineux, renforçant ainsi l'hypothèse qu'ils sont plus denses !!! Il y a aussi les fausses ombres de l'anneau de Saturne de part et d'autres de celui-ci sur le disque de la planètes (l'ombre de l'anneau de cette planète ne peut apparaître qu'au dessus ou en dessous mais jamais des deux c?tés, me semble-t-il !!!). L'amplitude de la luminance des artefacts croit jusqu'à un extremum, avec la dimension de la matrice convoluante et la valeur de sigma. Pour une matrice de dimension n pixels la luminance des artefacts croit si sigma croit. L'amplitude maximum provoquable par une matrice est obtenue si n > 4.sigma (ou sigma < n/4). Autrement dit, plus n est grand et plus l'artefact est contrasté; mais n n'influe plus sur l'amplitude des artefacts s'il est supérieur à environ 4 fois l'écart-type. La dimension d'un des deux artefacts en pixels est d'environ la moitié de la dimension de la matrice convoluante (si sigma reste supérieur à environ 1/6 de n). La dimension de l'artefact en pixels croit avec la dimension de la matrice mais atteint un maximum pour n supérieur à 10 sigma. |
De ces premières remarques, le lecteur aura compris qu'il faut éviter d'enchaîner ou d'itérer des traitements par masques flous. Les masques flous appliqués de la sorte font ressortir de plus en plus les artefacts créés par les masques précédants (voir FIGURE 5 et ILLUSTRATION 6). Il se produit même un phénomène d'oscillation. Dés lors, comment distinguer les faux détails des vrais ?
2 - POURQUOI Y A T-IL CREATION D'ARTEFACTS ?
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La création de l'artefact est due à la méthode par laquelle on estime l'image flou : la convolution. Voyons sur l'exemple de la figure 10. Le profil à extraire est une impulsion lumineuse, comme une étoile. La courbe en tiret est le résultat de la convolution du profil par une gaussienne. Cette dernière est utilisée comme masque flou. Il est bien évident que la soustraction des deux profils conduira à un autre qui n'aura pas la même allure. Il sera différent surtout au niveau des zones 1 et 2 où sont créés les deux artefacts. Dans ce cas isolé, il faudrait utiliser un masque plat pour extraire correctement ce profil.
Page maintenue par David ROMEUF